TetraMAX ATPG
テストパターン自動生成ツール
- プロトコルの改善により、従来のATPGツールより最大10倍の高速実行が可能
- 最大18Ｍゲート規模の回路までの処理が可能
- 少量のベクタセットで最大の故障検出率を実現
- ATPGの実行とシミュレーションのライブラリを統一し、異なるライブラリの使用に起因した従来の問題を改善
- GSV（Graphical Schematic Viewer）とon-lineコマンドで革新的なデバック環境をサポート
- 一般的な入力/出力ファイル形式を包括的にサポートし、業界標準のテスト・インターフェイス言語（STIL）、およびベクタ言語をサポート
- フル･スキャンとニア･フル･スキャンに対する高品質なATPGテストベクタ生成
- DFT CompilerによりRTLでのスキャン合成が可能
- DRCにより、下記項目に対するチップレベルの違反をチェック
ルール違反の場合は GSV と on-line コマンドにより詳細な内容の把握が可能
― スキャン・チェーン・ルールに違反しているFF
― ATPGの実行時間の増加、あるいは低故障検出にする非同期ロジック
― 正しいスキャン･シフトのため、同一クロック系列にグループ化されるべきFF
― ATPG実行中、制御に厳しいクロック・ジェネレーション
- バッチモードおよびグラフィカル・ユーザ･インターフェイスの相互利用
- VerilogあるいはTestGenライブラリの利用
- IEEE1149.1とカスタマ・テストコントローラ支援
- DelayTestオプションにより、設計者とテスト技術者は、最も良く用いられる 2 種類 （Transition
delay fault と Path delay fault） の遅延故障モデルをターゲットとしてテストパターンを生成することが可能
- 業界標準IEEE1450 STIL、Verilog-HDLシミュレーション・ライブラリをサポート
- 一般的なstuck-at faultとIDDQ故障に加え、遷移遅延故障とパス遅延故障モデルをサポート
- 64ビットOSのサポート
- Linuxのサポート
爆発的に成長を続けるエレクトロニクス･システムの設計において、DFT（Design For Test）はもっとも重要な問題のひとつです。今日のASIC業界では、品質への要求が非常に厳しくなっており、故障検出率についても高い精度が求められています。近年、フル･スキャンDFT手法は急速に浸透し続けており、多くの設計者の間で、ハイレベル・デザイン工程においてDFTは不可欠であることが認識されるようになりました。
シノプシスは、スキャン挿入による設計へのDFTの影響を最小限に抑え、高品質な故障検出パターンを実現する、最新テスト手法をご提供いたします。
ATPGツールは、設計全体を一度に処理する必要があるため、処理時間を短縮できる能力が求められています。特に近年の急速な設計規模の増加を考えると、ATPGツールの性能は設計者にとって非常に重要です。TetraMAX
ATPGは、最大限の効率を引き出せるように考慮されており、約1,000万ゲートまでを処理することが可能です。また、設計が複雑になるにつれ、最高レベルの故障検出率を実現するために、コアとなる新しいATPG能力が必要となりましたが、TetraMAX
ATPGはフル･スキャンとニア･フル･スキャンの両方を共通の環境でサポートしています。また、TetraMAX ATPGは、3種類のATPGエンジンを同一のATPG工程の中で、必要に応じて自動的に使い分けるので、非常に複雑な設計に対しても最高の故障検出率を実現します。
TetraMAX ATPGは、DFT Compiler の1-Passテスト合成設計フローとの一貫したフローで動作し、全てのテストロジック属性とビヘイビアは1-Passテスト合成後に出力されたプロトコルをTetraMAX
ATPGに入力することでシームレスなフローを実現します。
実際の回路を使用した従来のシノプシスATPG製品とのベンチマーク比較では、約50%も小さいベクタセットを1/5の時間で生成することができました。その結果、テスト設計に必要な時間は約1/10に短縮されます。
そして、従来ATPGとシミュレーションにおいて異なったライブラリを使用することにより発生したさまざまな問題を、TetraMAX
ATPGでは共通のライブラリを使用することにより改善しました。これは、専用のライブラリを新たに作成するための労力を不要にするだけではなく、最終的なサインオフ・フローとの相関性も改善します。
DFT Compilerにより、スキャン化された回路が完成すると、TetraMAXはフル･スキャンおよびニア･フル･スキャンに対して、最適化されたテストベクタを生成します。
TetraMAXの特長は、故障検出率、実行時間、メモリ使用の3点で高いパフォーマンスの結果を得られることです。TetraMAXを使用することによって、これまで難題とされていたSoCとDSPの支援も可能となりました。そして、どんなに深い下層に対しても、問題となるセルを色で表示するGSV、およびon-lineコマンドを利用し、テスタにて起り得るミスマッチを高性能なDRC（Design
Rule Check）により簡単に防ぐことができます。
●ハイパフォーマンス
3種類のATPGエンジン（高速 組合せATPG向けBasic Scan、簡易順序ATPG向けFast-Sequential、順序ATPG向けFull
Sequential）を任意に選択して実行可能
●大規模回路対応
64ビットOSにも対応。4Gメモリ環境で、18Mゲートまで対応可能
●容易な操作性
操作性の良いGUIにより、ネットリストを視覚的に表示し、解析作業をスムーズに実行可能
●DFT Compilerとの統合
IEEE1450で規格化されたSTILを用いて、DFT CompilerからDFT情報を受け取ることができるため、一貫した情報をもとに合成後のシームレスな処理が可能
●DelayTestオプション
DelayTest オプションを用いることで、設計者とテスト技術者は、最も良く用いられる 2 種類 （Transition delay
fault と Path delay fault） の遅延故障モデルをターゲットとしてテストパターンを生成することが可能となります。既存のスキャン手法にパスリストを選択するだけで、高品質の遅延故障テスト・パターンが生成できるだけでなく、安価なテスターを用いた低コスト・テスト手法を実行できる先駆的なソリューションです。
SoC設計にて、より効率よく、高品質かつ高い故障検出率パターンを自動生成したい設計者
TetraMAX ATPG Datasheet
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